產(chǎn)品介紹

EKSMA-光學(xué)平板

光學(xué)平面用于測(cè)試和評(píng)估其他光學(xué)元件。 我們提供具有參考表面λ/ 20 @ 633 nm平坦度的單表面光學(xué)平面。

o參考表面的平坦度：λ/ 20

o非常適合測(cè)試和評(píng)估其他光學(xué)元件

光學(xué)平面用于測(cè)試和評(píng)估其他光學(xué)元件。在平面和被評(píng)估對(duì)象之間的空氣中形成干涉圖案，并且這種圖案通常通過(guò)平面比通過(guò)對(duì)象更能看到。該圖案由交替的明暗條紋或條紋組成，這些條紋或條紋是氣膜厚度的等高線(xiàn)圖。如果光學(xué)表面比所評(píng)估的表面明顯平坦，則直接將干涉圖案解釋為被評(píng)估表面的等高線(xiàn)圖是正確的。

如果在物體的頂部使用平板，并通過(guò)平板觀察干涉圖案，則在平板的頂表面（不接觸被評(píng)估物體的表面）上具有防反射涂層是有利的。

 EKSMA-光學(xué)平板

光學(xué)平面可以提供涂層。如果您想訂購(gòu)帶涂層的光學(xué)平板，請(qǐng)注意平板的代碼和您要求的涂層代碼。有關(guān)適當(dāng)?shù)腁R涂層，請(qǐng)參閱涂層部分。